De Race naar 3D Geheugen: Vooruitgang in Epitaxiaal Groeien voor de Volgende Generatie DRAM

De Toekomst van Dynamisch Geheugen: Een Doorbraak in 3D DRAM

Inleiding

De toekomst van dynamisch willekeurig toegang geheugen (DRAM) ligt letterlijk in de lagen. Terwijl de technologie-industrie de traditionele schalingseisen probeert te overstijgen, hebben Europese onderzoekers een belangrijke doorbraak gepresenteerd in de epitaxiale groei van meerlagen silicium en silicium-germanium (Si/SiGe). Dit is een essentiële stap richting snellere, efficiëntere en dichtere drie-dimensionale geheugensystemen.

Van 2D naar 3D: Een Paradigma Verschuiving in Geheugen

Decennialang is de vooruitgang in DRAM gebaseerd op de reductie van transistorafmetingen, volgens de bekende Wet van Moore. Echter, de fysieke en economische grenzen van deze schaling maken het steeds moeilijker om deze weg voort te zetten.

De opkomende oplossing is drie-dimensionale integratie: het stapelen van lagen van halfgeleidermaterialen in multilayerstructuren die de dichtheid kunnen verhogen zonder elke celextreem te verkleinen. Onderzoekers richten zich op architecturen gebaseerd op epitaxiale multilagen van silicium en silicium-germanium, waarbij germanium zorgt voor hoge selectiviteit in gravureprocessen, cruciaal voor het definiëren van geheugenchannels.

120 Laag-paar: Een Record in Stabiliteit

In hun studie hebben de onderzoekers met behulp van epitaxiale technieken op 300 mm wafers tot 120 koppels van 65 nm silicium en 10 nm Si0.8Ge0.2 gestapeld. Opmerkelijk genoeg bleven de lagen in het centrum van de wafer volledig gespannen, zonder detecteerbare gebreken.

“Het bereiken van een totale opbouw van 1,2 micrometer Si0.8Ge0.2 zonder netwerkrust is een opmerkelijke prestatie”, melden de auteurs. Dit resultaat overschrijdt de theoretische en experimentele kritische grens op significante wijze.

De Uitdaging: Netwerkdislocaties

Ondanks de uitstekende kristallijne kwaliteit in het centrum van de wafers, verschenen er netwerkdislocaties aan de randen. Deze imperfecties komen vaak voor omdat de randen fungeren als gebieden met een lagere energiedrempel voor ontspanning van het materiaal.

Onderzoekers onderzochten twee strategieën om deze fenomenen te verminderen:

  1. Verminderen van de germaniumconcentratie in de SiGe-lagen.
  2. Kleine hoeveelheden koolstof introduceren in het kristallijne rooster (co-aleiding).

Beide methoden verlagen de mismatch tussen Si en SiGe, waardoor de kans op ontspanning afneemt.

Uniformiteit: Een Grote Uitdaging

Een van de grote obstakels bij multilayer epitaxie is de verticale en laterale uniformiteit. Hoewel de onderzoekers erin slaagden om constante composities te behouden, varieerden de lagen in dikte naarmate de groei vorderde. Dit kwam door de afzetting op de quartzwand van de reactor, die de temperatuur van het gegroeide oppervlak beïnvloedde en daarmee de afzettingssnelheid varieerde.

Nieuwe technieken stellen onderzoekers in staat om de temperatuur van de quartz te controleren, wat resulteert in een significante verbetering van de laag-voor-laag homogeneiteit.

Het Dilemma van Germanium

Germanium speelt een cruciale rol. Doordat de concentratie germanium de gravureprocessen beïnvloedt, wordt het moeilijker om de kanalen nauwkeurig te definiëren. Het dilemma is eenvoudig: meer germanium verbetert het gravureproces maar vergroot het risico op defecten, terwijl minder germanium de structuur stabiliseert maar de fabricagecomplicaties verergert.

Implicaties voor de Geheugenindustrie

Deze doorbraak is niet alleen een academische prestatie, maar heeft directe implicaties voor de toekomst van DRAM. De industrie zal naar verwachting overstappen van verticale kanalen naar horizontaal gestapelde structuren in 3D, wat leidt tot hogere opslagdensiteit in dezelfde fysieke ruimte. Deze nieuwe architecturen sluiten aan bij de behoeften van datacentra en kunstmatige intelligentie, waar de vraag naar hoge prestatienormen en energie-efficiëntie toeneemt.

Slot

De groei van tot 120 multilagen Si/SiGe markeert een keerpunt in de zoektocht naar 3D DRAM. Ondanks de aanhoudende uitdagingen in uniformiteit en netwerkdislocaties, is de weg naar snellere, dichtere en efficiëntere geheugensystemen dichterbij dan ooit. In een wereld waar data exponentieel toenemen, zijn deze vooruitgangen niet alleen technische prestaties, maar de basis voor de volgende revolutie in computertechnologie en kunstmatige intelligentie.

Scroll naar boven